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產品中心 小麥面粉大米檢測化驗儀器
小麥面粉大米檢測化驗儀器 谷物分析儀
谷物分析儀

玉米表型檢測儀可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、玉米株高、莖稈節間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數。
 更新時間:2025-07-07
更新時間:2025-07-07 型號:KM-YMBX
型號:KM-YMBX 瀏覽量:679
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水稻表型檢測系統可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數、理論產量、穗長、總粒數和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量,可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。
 更新時間:2025-07-07
更新時間:2025-07-07 型號:KM-SDY
型號:KM-SDY 瀏覽量:534
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KM-DMII大米碎米測定儀用于代替人工目測來客觀、快速、準確地自動檢測大米的加工精度,具有重復性和再現性好等優點
 更新時間:2025-07-07
更新時間:2025-07-07 型號:KM-DMII
型號:KM-DMII 瀏覽量:642
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大米加工精度分析儀用于代替人工目測來客觀、快速、準確地自動檢測大米的加工精度,適用于科研院所、檢測單位、碾米廠和流通企業等。
 更新時間:2025-07-07
更新時間:2025-07-07 型號:KM-DMJD
型號:KM-DMJD 瀏覽量:860
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